全自动IC编带机视觉检测体系

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全自动IC编带机视觉检测体系

1、体系简介：

全自动IC芯片字符及引脚检测体系(Automatic IC Vision Inspection System)是深圳精视诚视觉科技有限公司自主研发的一款视觉产品。该体系首要用于半导体IC芯片检测。现在本体系已经具有如下三大功用：

1），2D 字符及外表检测（Mark&Surface），首要检测项目有：漏印字符、无印字、印字倾斜、印字模糊、双重印、印字过错、正印反向等。

2），2D 引脚检测，首要检测项目有：管脚的长度、宽度、间距、歪斜度、跨距、引脚受损、引脚弯曲。

3），3D引脚检测（Standoff&coplanarity），首要检测项目有：芯片管脚的共面程度，管脚的长度、宽度、间距、歪斜度、跨距、引脚受损、引脚弯曲等。

2、功用特色：

1）连续运动拍照，检测速度快，适应半导体快速出产的要求。

2）高精度图画处理功用，IC字符及引脚分别取像

3）自动重检功用，有效降低误报率。

4）屏幕显现不良IC画面，可选择放行或标记。

5）不良IC图画存储功用，便于质量追溯。

6）检测项目可选。

7）可量化的、安稳的质量操控标准，确保用户产品质量的一致性。

8）全面的缺点检测，防止缺点产品漏检出厂。

3、应用范围：

本体系可安装于半导体工业中多种类型的测试机及编带机上。能够测试的芯片种类有：SOP、SOT、QFP、TSOP、 QFN等。

4、类型及首要目标：

型号	KV-ICCHK-001	KV-ICCHK-002	KV-ICCHK-003
体系特征	单相机，单光源。印字及引脚同时取像	单相机，双光源。印字及引脚别离取像。	双相机，双光源。印字及引脚别离取像。
检测项目	字符检测	漏印字符、无印字、印字模糊、双重印、印字过错等
检测项目	引脚检测	长度、宽度、距离、歪斜度、跨距、引脚受损、引脚弯曲	芯片管脚的共面程度，管脚的长度、宽度、距离、歪斜度、跨距、引脚受损、引脚弯曲等。
检测精度	7．5u	7．5u	7．5u
检测速度	Max 24K/h (视检测项多少而有所调整)
适用封装类型	SOP、SOT、QFP、TSOP、 QFN等

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